Normal view
MARC view
Vth International congress on Y-ray optics and microanalysis (Record no. 14401)
[ view plain ]
| 000 -Etiquette de la notice | |
|---|---|
| Leader | 00503nam a22001337a 4500 |
| 099 ## - ESPCI local | |
| Type de document Koha | Ouvrage |
| ID Alexandrie | ALEX28620 |
| 100 ## - Données générales de traitement | |
| Données générales de traitement | 20241101d1969 m||y0engy50 ba |
| 101 ## - Langue de la ressource | |
| Langue du texte, de la bande son, etc. | anglais |
| 200 ## - Titre et mention de responsabilité | |
| Titre propre | Vth International congress on Y-ray optics and microanalysis |
| 214 ## - Mentions de production, publication, diffusion et manufacture | |
| Lieu de publication, production, distribution/diffusion, fabrication | Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York |
| Nom de l’éditeur, du producteur, distributeur/diffuseur, fabricant | G. Möllenstedt and K.H. Gaukler |
| Date de publication, production, distribution/diffusion, fabrication, copyright | 1969 |
| 215 ## - Description physique | |
| Type de présentation matérielle et importance matérielle | XII+612 |
| Dimensions | 20x28cm |
| 300 ## - Notes générales | |
| Texte de la note | Ve Congrès international sur l'optique des rayons X et la microanalyse |
| Perdu | Date de création | Site de rattachement | Site actuel | Localisation | Code à barres | Cote | Exclu du prêt | Type de document Koha |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 30/06/2025 | La bibliothèque de l'ESPCI | La bibliothèque de l'ESPCI | Stockage externe | R-1190 | R-1190 | Ouvrage |