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Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton

Ouvrage
Auteur principal: Egerton, Ray F., 19..-...., physicien, AuteurLangue : anglaisPays : Etats-Unis.Publication : New York : Springer, cop. 2005Description: 1 vol. (XII-202 p.), ill., 25 cmISBN : 0387258000; 978-0387-25800-3.Bibliographie : Références bibliogr. p. [195]-196. Index.Sujet - Nom commun: Microscopie électronique | Electron microscopy
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Ouvrage Ouvrage La bibliothèque de l'ESPCI Salle de lecture IT-031 (Browse shelf(Opens below)) Available IT-031

Autre tirage : 2007

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