TY  - BOOK
TI  - Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
SN  - 0306441756
PY  - 1992///
CY  - New York
PB  - Plenum Press
KW  - X-ray microanalysis
KW  - lc
KW  - 027337537
KW  - Microscopes électroniques à balayage
KW  - rameau
KW  - Scanning electron microscopy
KW  - 027618749
KW  - Microanalyse par émission X
KW  - 027752437
KW  - Microscopie électronique à balayage
KW  - 502/.8/25
KW  - 20
KW  - QH212.S3
KW  - S29 1992
N2  - Bibliographie p. 785-805. Index
ER  -