| 000 | 00563nam a22001457a 4500 | ||
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| 090 | _a10538 | ||
| 099 |
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| 100 | _a20241101d2008 m||y0frey50 ba | ||
| 101 | _afre | ||
| 200 |
_aMesure directe et non destructive de la distribution de charges d'espace à l'échelle nanométrique dans les isolants et les semi-conducteurs : _eapplication à la microélectronique |
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| 214 |
_cUniversité Pierre et Marie Curie _cESPCI _d2008 |
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| 215 | _a170 pp. | ||
| 700 |
_aDAGHER _bGulmar _4070 |
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| 701 |
_aLEWIN _bBenjamin _4727 |
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