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200 | 1 |
_aLes systèmes mécatroniques embarqués _h2 _iAnalyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation _fsous la direction d'Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet |
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214 | 0 |
_aLondon _cISTE éditions |
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214 | 4 | _dC 2015 | |
215 |
_a1 vol. (244 p.) _cill., couv. ill. en coul. _d24 cm |
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225 | 0 | _aGénie mécanique et mécanique des solides | |
320 | _aBibliogr. en fin de chapitres. Index | ||
359 | 2 |
_bChapitre 1, Essais hautement accélérés associant température, vibrations et humidité _bChapitre 2, Banc de vieillissement de transistors en conditions opérationnelles _bChapitre 3, Analyse des défauts physiques des systèmes mécatroniques _bChapitre 4, Effet de défauts lacunaires dans les matériaux d'interconnexion _bChapitre 5, Modélisation électro-thermomécanique de systèmes mécatroniques _bChapitre 6, Création de métamodèle _bChapitre 7, Optimisation fiabiliste des systèmes électroniques embarqués _bChapitre 8, Architecture haut rendement d'amplificateurs de puissance |
|
410 |
_0181638282 _tCollection Génie mécanique et mécanique des solides |
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452 |
_0190401745 _tLes systèmes mécatroniques embarqués _h2 _iAnalyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation _fsous la direction d'Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet _cLondon _nISTE éditions _dcop. 2015 _sGénie mécanique et mécanique des solides |
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517 | _aAnalyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation | ||
606 |
_3027910156 _aMécatronique _2rameau |
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606 |
_3027910156 _aMécatronique _3027330362 _xFiabilité _2rameau |
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606 |
_3027910156 _aMécatronique _3027248763 _xSimulation, Méthodes de _2rameau |
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606 |
_3033217521 _aSystèmes embarqués (informatique) _3027330362 _xFiabilité _2rameau |
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606 |
_3027270297 _aÉlectronique _2rameau |
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606 |
_3027340198 _aÉlectronique de l'état solide _3027551385 _xModèles mathématiques _2rameau |
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676 |
_a621 _v23 |
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700 | 1 |
_3083866655 _aEl Hami _bAbdelkhalak _f1962-.... _cprofesseur en mécanique _4651 |
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701 | 1 |
_3185481744 _aPougnet _bPhilippe _f19..-.... _cauteur-ingénieur en fiabilité des systèmes _4651 |