| 000 | 00470nam a22001337a 4500 | ||
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| 099 |
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| 100 | _a20241101d1995 m||y0frey50 ba | ||
| 101 | _afre | ||
| 200 | _aEllipsométrie sous excitation impulsionnelle appliquée à l'analyse d'effets photothermiques à la surface d'échantillons semiconducteurs | ||
| 214 |
_cUniversité Paris VI _d1995 |
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| 215 | _a177 pp. | ||
| 700 |
_aEL RHALEB _bEl Houssine _4070 |
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