Results
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Handbook of biological confocal microscopy / editor James B. Pawley,... Publication : New York (N.Y.) : SpringerDate du copyright : 2006Description : 1 vol. (XXVIII, 985 p.) :
ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. ;
29 cm +
1 erratumDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : LNBP-005 (1).
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Electron microscopy of thin crystals / by P. B. Hirsch,... A. Howie,... R. B. Nicholson,... [et al.] Publication : London : Butterworths, 1967, cop. 1965Description : 1 vol. (VIII-549 p.) :
ill. ;
26 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : IT-048 (1).
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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists / Joseph I. Goldstein,...Dale E. Newbury,...Patrick Echlin,...[et al.] Publication : New York : Plenum Press, cop. 1992Description : 1 volume (xviii-820 pages) :
illustrations ;
26 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : IT-049 (1).
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7.
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Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces / Dror Sarid Publication : New York [etc.] : Oxford University Press, 1991Description : 1 volume (xi-253 pages) :
illustrations ;
24 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : OP-010 (1).
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8.
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Scanning electrochemical microscopy / ed. by Allen J. Bard..., Michael V. Mirkin... Publication : New York : Marcel Dekker, cop. 2001Description : 1 vol. (X-650 p.)ill., couv. ill. ;
24 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : CA-056 (1).
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9.
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Scanning probe microscopy : the lab on a tip / Ernst Meyer, Hans Josef Hug, Roland Bennewitz Publication : Berlin : Springer, cop. 2004, cop. 2004Description : 1 volume (X-210 p.) :
ill. ;
24 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : IT-041 (1).
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10.
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Dictionary of microscopy / Julian P. Heath Publication : Chichester, England : John Wiley & Sons, cop. 2005Description : 1 vol. (357 p.) ;
24 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : IT-032 (1).
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11.
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Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton Publication : New York : Springer, cop. 2005Description : 1 vol. (XII-202 p.) :
ill. ;
25 cmDisponibilité : Exemplaires disponibles pour le prêt : Cote : IT-031 (1).
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